SSY-Ⅲ纖維雙折射測量儀獲國家發(fā)明專利

近日，國家知識產(chǎn)權(quán)局向上海東華凱利新材料科技有限公司研制成功的SSY-Ⅲ纖維雙折射測量儀頒發(fā)了國家發(fā)明專利證書，該測量儀填補國內(nèi)空白，并獲得了上海市科技型中小企業(yè)創(chuàng)新基金項目資助。

根據(jù)國家標準，紡織纖維雙折射率有貝克線法、干涉法和補償法。國內(nèi)傳統(tǒng)的固定光程差補償法，這種制作晶體補償片組合的方法，采用手動調(diào)整光程差，操作不方便，測量精度不高。同時，需要許多規(guī)格不同的補償片，其補償范圍窄，不適合種類繁多的新材料雙折射的測量。

為了克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，SSY-Ⅲ纖維雙折射測量儀突破了傳統(tǒng)的有級差晶體光程差補償，使用新穎的無級差光程補償，由連續(xù)轉(zhuǎn)動的含微調(diào)功能的晶體補償裝置，產(chǎn)生的光程差相對于轉(zhuǎn)動角度呈線性關(guān)系， 運用全波長對纖維雙折射進行精確的測量，展示纖維雙折射隨拉伸形態(tài)過程連續(xù)變化的規(guī)律。