四端子粉末電阻測(cè)試儀

高精度碳紙平面電阻率測(cè)試儀

GB/T 1997 焦炭試樣的采取和制備

GB/T 8170 數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定

方法原理：

將一定粒度的干燥試樣裝入試樣精內(nèi)，在一定的壓力下通入一定強(qiáng)度的電流，測(cè)量試樣兩端的電壓降，根據(jù)歐姆定律計(jì)算試樣的電阻率。

粉未電阻率測(cè)量?jī)x

高度測(cè)量裝置;測(cè)量范圍 15 mm～17 mm，精度 0.01 mm。

試驗(yàn)機(jī);能給試樣穩(wěn)定施加 3.9 MPa±0.03 MPa 壓力，線路電壓降低于0.5 mV。 電源∶能提供穩(wěn)定直流 500 mA士0.1 mA。

電壓表∶測(cè)量精度士0.1 mV，可測(cè)量試樣兩端的電壓降。試樣筒內(nèi)徑 16.0 mm～16.3 mm。

干燥箱溫度可以控制在0 ℃～300 ℃，控溫精度士5 ℃，帶鼓風(fēng)。

試樣采取和制備焦炭按照 GB/T 1997 規(guī)定進(jìn)行，其他可參照?qǐng)?zhí)行。

高精度碳紙平面電阻率測(cè)試儀

參數(shù)資料：方塊電阻范圍：10^-6～2×10²Ω/□   電阻率范圍：10^-7～2×10³Ω-cm

測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

電流精度：±0.1%讀數(shù)

電阻精度：≤0.3%

軟件界面：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率、電阻率、壓強(qiáng)等.

測(cè)試方式: 四探針測(cè)量（體電阻率）和四端法（接觸電阻測(cè)量）

壓力范圍：0-1000kg（0-4MPa）.

樣品形狀為正方形（鍍金電極為5cm×5cm)，面積為25cm2（其他規(guī)格定制）

工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W

加壓方式：自動(dòng)

樣品高度量程和精度：高度測(cè)量范圍：0.001-10.001mm，測(cè)量分辨率0.001mm

溫濕度范圍：常溫-50度；濕度：20%-98%

恒壓時(shí)間：0-99.9S

標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)件：a.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻1個(gè)；b.標(biāo)準(zhǔn)高度校準(zhǔn)件1個(gè)

工作電源：220±10% 50HZ/60HZ

標(biāo)配外選購(gòu)：

電腦和打印機(jī)依據(jù)客戶要求配置；    

雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料電阻率的設(shè)備。它在材料科學(xué)、電子工程、新能源等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。本文將從雙極板材料的特性、四探針測(cè)試原理、低電阻測(cè)量的重要性以及測(cè)試儀的應(yīng)用等方面進(jìn)行詳細(xì)闡述。

雙極板材料的特性

雙極板材料是一種具有優(yōu)異導(dǎo)電性能的新型材料，廣泛應(yīng)用于電池、燃料電池、超級(jí)電容器等能源存儲(chǔ)和轉(zhuǎn)換裝置中。它具有高比表面積、良好的電子傳輸性能、高化學(xué)穩(wěn)定性和長(zhǎng)壽命等特點(diǎn)。這些特性使得雙極板材料在能源領(lǐng)域具有巨大的應(yīng)用潛力。

四探針測(cè)試原理四探針測(cè)試法是一種用于測(cè)量材料電阻率的非破壞性測(cè)試方法。它通過(guò)在被測(cè)材料表面放置四個(gè)等間距的探針，利用恒流源給外側(cè)兩個(gè)探針施加電流，同時(shí)測(cè)量?jī)?nèi)側(cè)兩個(gè)探針之間的電壓降，從而計(jì)算出材料的電阻率。四探針測(cè)試法具有測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)便、可重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)，因此在材料電阻率測(cè)量中得到了廣泛應(yīng)用。

一、校準(zhǔn)前準(zhǔn)備

?環(huán)境要求?

溫度控制在20-25℃，濕度40-60%，避免電磁干擾和機(jī)械振動(dòng)。

儀器需靜置平衡至少30分鐘（部分設(shè)備需1-2小時(shí)）以穩(wěn)定內(nèi)部元件。

?設(shè)備檢查?

清潔電極接觸面，確保無(wú)氧化或污染。

檢查連接線是否老化，鱷魚(yú)夾與香蕉插頭接觸良好。

二、校準(zhǔn)步驟（以標(biāo)準(zhǔn)電阻法為例）

?選擇標(biāo)準(zhǔn)電阻?

使用精密校準(zhǔn)電阻，其阻值需接近待測(cè)樣品預(yù)期范圍，穩(wěn)定性誤差≤±0.1%。

?連接電路?

將標(biāo)準(zhǔn)電阻兩端通過(guò)鱷魚(yú)夾接入測(cè)試儀，確保四端法連接（電流端與電壓端分離）以消除接觸電阻。

?調(diào)節(jié)校準(zhǔn)器?

打開(kāi)儀器電路板，找到右下角的三個(gè)校正調(diào)節(jié)器：

?上方調(diào)節(jié)器?：校準(zhǔn)溫度相關(guān)參數(shù)（如環(huán)境補(bǔ)償）。

?中間調(diào)節(jié)器?：校準(zhǔn)阻抗/電阻基準(zhǔn)值。

?下方調(diào)節(jié)器?：微調(diào)溫度系數(shù)（需用小螺絲刀操作）。

順時(shí)針旋轉(zhuǎn)增加校準(zhǔn)值，逆時(shí)針減小。

?驗(yàn)證校準(zhǔn)結(jié)果?

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)電阻，對(duì)比顯示值與標(biāo)稱(chēng)值，誤差應(yīng)≤±0.5%讀數(shù)+2字。

若超差需重復(fù)調(diào)節(jié)，直至符合精度要求。

其他校準(zhǔn)方法

?四探針?lè)ㄐ��?zhǔn)?

使用已知電阻率的標(biāo)準(zhǔn)片（如硅片），按四探針間距公式驗(yàn)證儀器計(jì)算邏輯。

?自動(dòng)校準(zhǔn)功能?

部分全自動(dòng)機(jī)型支持一鍵校準(zhǔn)，需按說(shuō)明書(shū)加載標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)文件。

注意事項(xiàng)

?接觸電阻?：電極與樣品接觸壓力需一致，避免松動(dòng)導(dǎo)致誤差。

?溫度影響?：高溫環(huán)境下需啟用溫度補(bǔ)償功能或修正系數(shù)。

?定期維護(hù)?：每月至少校準(zhǔn)1次，長(zhǎng)期未用需重新校準(zhǔn)。

?裝樣?

將粉末倒入測(cè)試模具腔體，刮平表面至與槽口齊平。

?連接電極?

紅色測(cè)試線接長(zhǎng)柄電極，黑色接短柄電極（不分順序）。

?參數(shù)設(shè)置?

選擇量程（如10^-6~10^5Ω·cm）、電壓（1-10V）及測(cè)試時(shí)間（2-5秒）。

?啟動(dòng)測(cè)量?

保持儀器水平，勻速啟動(dòng)測(cè)試，實(shí)時(shí)記錄穩(wěn)定讀數(shù)。

數(shù)據(jù)計(jì)算

?電阻率公式?：

松散狀態(tài)：ρ=10R（單位：Ω·cm，R為實(shí)測(cè)電阻）。

壓實(shí)狀態(tài)：需輸入樣品厚度/直徑，儀器自動(dòng)計(jì)算。

注意事項(xiàng)

?環(huán)境控制?：溫度20-25℃、濕度40-60%，避免靜電干擾。

?誤差控制?：電壓測(cè)量誤差需≤±0.5%讀數(shù)+2字。

?維護(hù)保養(yǎng)?：測(cè)試后清潔電極，定期校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)電阻。

測(cè)定將試樣筒底和壓頭短接，然后施加3.9 MPa±0.03 MPa的壓力，連好電線并接通電源。調(diào)整穩(wěn)壓電源電流，使通過(guò)線路的電流為 500 mA士0.1 mA，然后測(cè)量線路的電壓降V。（該讀數(shù)應(yīng)小于1 mV，否則需調(diào)整儀器），測(cè)定兩次取平均值。

在試樣筒中加入試樣，震實(shí)并使試樣上表面平整后將試樣筒置于試驗(yàn)機(jī)內(nèi)，然后施加3.9 MPa±0.03 MPa的壓力，測(cè)量樣品高度h，連好電線并接通電源，調(diào)整穩(wěn)壓電源電流，使通過(guò)試料的電流為500mA士0.1mA，然后測(cè)量試樣的電壓降。

測(cè)定次數(shù)獨(dú)立地進(jìn)行兩次測(cè)定，每次測(cè)定均使用未測(cè)試過(guò)的新試樣，取其平均值。

檢測(cè)時(shí)間當(dāng)試樣通過(guò)電流開(kāi)始 3min 內(nèi)應(yīng)檢測(cè)完畢，超時(shí)結(jié)果做廢。

結(jié)果計(jì)算

按式（1）計(jì)算粉末電阻率∶

式中∶-—粉末電阻率，單位為微歐米（μΩ·m）;

S——試樣筒內(nèi)橫截面積，單位為平方毫米（mm²）;

V ——試樣與線路電壓降，單位為毫伏（mV）;

V。--—線路電壓降，單位為毫伏（mV）;

I —電流，單位為安培（mA）;

h——試樣顆粒柱的高度，單位為毫米（mm）。

檢驗(yàn)結(jié)果為兩次測(cè)定值的算術(shù)平均值，保留整數(shù)。數(shù)值修約按 GB/T 8170 的修約比較法規(guī)定進(jìn)行。

精密度重復(fù)性在重復(fù)性條件下，大于300μ·m 的樣品兩次測(cè)定結(jié)果的差值不大于5%，小于 300μn·m 的樣品兩次測(cè)定結(jié)果的相對(duì)偏差不大于 8%。

再現(xiàn)性在再現(xiàn)性條件下，大于300μΩ·m 的樣晶兩次測(cè)定結(jié)果的差值不大于8%，小于300 μA·m 的樣品兩次測(cè)定結(jié)果的相對(duì)偏差不大于 10%。